성진아이앤드티

[오늘의 핵심 미리보기]

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Q. ATR 스펙트럼에서 베이스라인 시프트(Baseline Shift)가 발생하는 이유는 무엇일까요?

A. 임계각(Critical Angle) 위반, 액세서리 위치 변화, 온도 변화가 주요 원인 입니다.

ATR 스펙트럼에서 베이스라인 시프트가 발생하는 이유

ATR 방식의 FT-IR 사용 중,

스펙트럼의 베이스라인이 내려가거나 올라가는 현상(Baseline Shift)이 관찰될 수 있습니다.

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이번 글에서는 실험실에서 실제로 자주 발생하는 원인에 대해 알아보겠습니다.

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1. 임계각(Ciritical Angle) 위반

- 임계각 조건이 충족되지 않아 더이상 전반사가 일어나지 않는 경우 베이스라인에 변화가 있을 수 있습니다.

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2. 백그라운드와 샘플 측정 중간에 액세서리가 이동

- 백그라운드 측정 → 샘플 측정 중간에 액세서리가 미세하게 움직이면,

샘플 스펙트럼에서 투과되는 IR의 양이 변할 수 있습니다.

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3. 온도 변화 ★

- ATR에서 사용하는 크리스탈(예: ZnSE, Diamond, Germanium)은

온도 변화에 따라 투과율이 변하는 특징이 있습니다.

위 스펙트럼은 ZnSe ATR에서 동일한 백그라운드로 측정한 물(Water) 스펙트럼 예시 입니다.

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빨간색​: 실온의 물 → 정상적인 100% 근처 베이스라인

파란색: 얼음물 측정 → 베이스라인이 아래로 내려감

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이러한 현상이 발생하는 이유는

ZnSe의 격자 구조가 온도가 떨어지면 투과율이 감소하는 특징을 가지고 있기 때문입니다.

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따라서 ATR 측정에서 베이스라인 시프트가 확인 된다면 온도 변화를 원인으로 고려해 볼 수 있습니다.

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